סקירה
בבדיקת KFT (Key Functional Testing) ב-CTC (Circuit Technology Center), המהנדסים שלנו מתכננים מעגל בדיקה לבדיקת ההיבטים העיקריים של הרכיב המפורטים בגיליונות הנתונים – למשל ערך Rds(on) של MOSFET.
CTC מבצעת מגוון בדיקות KFT לרכיבי IC, תוך מדידת ביצועים מול פרמטרי גיליון הנתונים. יש לנו גם יכולת לבדוק במדויק רכיבים אחרים, כולל רכיבים פסיביים. הבדיקות מתבצעות בטווח טמפרטורות של -55ºC עד 150ºC.
לרכיבים ששוקמו על ידי Retronix, ניתן לאשר באמצעות בדיקה פונקציונלית שהם תקינים לאחר השיקום.